探针台
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特点 / 应用
◆ 满足I-V/C-V,PIV测试,光电测试等.
◆ *大可用于8英寸以内样品测试
◆ 同轴丝杠传动结构,线性移动
◆ 兼容高倍率金相显微镜,可微调移动
◆ 可升级做射频,大电流方面的测试和激光修复应用
技术指标
• 6"卡盘,采用中心吸附孔和多圈吸附环固定样品,均独立控制,中心吸附孔*小可以选择250微米
• 卡盘平整度:5µm,标准卡盘可360度无间隙旋转
• 卡盘X/Y轴无间隙移动,行程:6英寸X6英寸,移动精度:5um,并带锁死装置
• 平台快速升降行程8mm,微调精度1um并带自动锁定功能
• 可调节显微镜在X-Y平面2"x2"范围内移动,精度1微米(系统不包含显微镜)
• 可调节显微镜快速倾仰,便于更换物镜,带自动锁定功能
• 平台可升降调节适合加装探针卡,便于针卡重定位
• 台体不含显微镜
订购:中端探针台 CL-6