双面探针台CH-8-D-北京神州新元科技有限公司

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双面探针台CH-8-D

特点/应用

◆CINDBEST CH-8-D 双面点针探针台可用于晶圆和PCB板测试，

◆用于需要正面和背面同时扎针，以实现各种光/电性能测试需求的测试设备。

◆该定制探针台具有优良的机械系统，稳定的结构，符合人体工程学，以及多项升级功能。

◆可广泛应用于集成电路、Wafer ， LED、LCD、太阳能电池等行业的制造和研究领域

技术指标

• 8"卡盘，采用中心吸附孔和4圈吸附环固定样品，分别由4个开关独立控制

• 卡盘台X/Y方向的行程是:8英寸*8英寸,精度:10micron，均带锁死旋钮

• 卡盘可以360度旋转，细调精度不大于0.1度，带有锁定旋钮

• XY平台带气浮型快移功能，可快速定位

• 双层针座平台，支持双面点针测试

• 双显微镜结构设计，支持芯片背面显微镜放大及定位

• 上针座平台一键升降功能，常规探针台和双面探针台一键切换

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